Microscopía de fuerza atómica (AFM)

La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una técnica para analizar la superficie de un material rígido hasta el nivel del átomo. AFM utiliza una sonda mecánica para ampliar las características de la superficie hasta 100,000,000 de veces y produce imágenes tridimensionales de la superficie.

La técnica se deriva de una tecnología relacionada, llamada microscopía de túnel de barrido (STM). La diferencia es que AFM no requiere que la muestra conduzca electricidad, mientras que STM sí. AFM también funciona a temperaturas ambiente normales, mientras que STM requiere una temperatura especial y otras condiciones.

AFM se está utilizando para comprender los problemas de los materiales en muchas áreas, incluido el almacenamiento de datos, las telecomunicaciones, la biomedicina, la química y la industria aeroespacial. En el almacenamiento de datos, está ayudando a los investigadores a "forzar" un disco a tener una mayor capacidad. Los dispositivos de almacenamiento magnético actuales suelen tener un límite de capacidad de entre 20 y 50 gigabits (miles de millones de bits) por pulgada cuadrada de medio de almacenamiento. Los investigadores están estudiando AFM para ayudar a elevar las densidades de lectura y escritura a entre 40 gigabits y 300 gigabits por pulgada cuadrada. Nadie ha comercializado aún la tecnología AFM para este propósito, pero IBM y otros la están persiguiendo activamente.